JDT JFC0603-1100FS
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JFC0603TS TIME-LAG FUSE
OPT-CH03-110C-F6.5双远心物镜
本资料详细介绍了OPT-CH03-110C-F6.5型号的光学镜头产品规格，包括光学配置、工作距离、放大倍数、传感器尺寸、分辨率、视场角等关键参数，以及镜头的深度场、图像MTF30等性能指标。
JFC0603HFS ultra small thin-film device
JFC1206-1200FS保险丝RoHS（SGS）测试报告（SZXEC2101551102）
本报告为深圳市JDT熔断器工业有限公司提交的熔断器（JFC1206-1200FS）样品的测试报告。报告编号为SZXEC2101551102，测试日期为2021年5月28日。报告内容包括样品信息、测试方法、测试结果和结论。测试结果显示，样品中的铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯（PBBs）、多溴联苯醚（PBDEs）和邻苯二甲酸盐（如DEHP、BBP、DBP和DIBP）等有害物质含量均符合欧盟RoHS指令2015/863的规定限值。
JDYX2.E486200-保险丝，补充元件UL Product IQ™
该资料详细介绍了深圳JDT熔断器工业有限公司生产的多种补充熔断器产品，包括不同尺寸、电流和电压等级的熔断器，以及表面安装型熔断器。产品包括带尾线熔断器、微型熔断器和填充管熔断器等，适用于不同电压和电流的电路保护。资料中列出了每种熔断器的型号、尺寸、额定电流、额定电压和断开能力。
JFG5T1315N玻璃保险丝（SGS）测试报告（SZXEC2101551104）
本报告为深圳市JDT熔断器工业有限公司提交的玻璃熔断器（JFG5T1315N）的测试报告。报告编号为SZXEC2101551104，测试日期为2021年5月25日至28日。报告内容包括样品描述、测试方法、测试结果和备注。测试项目包括镉、铅、汞、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚和邻苯二甲酸酯等有害物质，所有测试结果均未检测到限值以下的有害物质。
ASMD0805-010 PPTC自恢复保险丝RoHS（SGS）测试报告（SZXEC2101551107）
本报告为深圳市JDT保险丝工业有限公司提交的PPTC重置式保险丝R型（ASMD0805-010）样品的测试报告。报告由SGS-CSTC标准技术服务有限公司深圳分公司出具，测试日期为2021年6月1日。报告内容包括样品描述、测试方法、测试结果和结论。测试结果显示，样品中的铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯（PBBs）、多溴联苯醚（PBDEs）和邻苯二甲酸盐（如DEHP、BBP、DBP和DIBP）等有害物质含量均符合欧盟RoHS指令2015/863规定的限值。
XGPU2.E472196-热敏电阻型器件-组件UL Product IQ™
该资料详细介绍了多种类型的PTC电流限制器，包括其型号、电压、电流、温度范围和分类等信息。资料中列出了不同型号的PTC电流限制器，并提供了其最大电压、额定电压、电流、短路电流和温度等级等关键参数。此外，还包含了不同型号的表面贴装器件（SMD）的规格，如ASMD0805和ASMD1206系列，包括其尺寸、额定电流、电压和封装类型等。
A30-110 PPTC自恢复保险丝（SGS）测试报告（SZXEC2101551103）
本报告为深圳市金蝶电子熔断器有限公司提交的PPTC重置式熔断器R-TYPE (A30-110)的测试报告。报告编号为SZXEC2101551103，测试日期为2021年5月25日至28日。报告内容包括样品描述、测试项目、测试方法、测试结果等。测试项目涉及重金属、阻燃剂、邻苯二甲酸盐等，所有测试结果均符合客户提交的限值要求。
JFS1100TR保险丝（SGS）测试报告（SZXEC2101551106）
本报告为深圳市金蝶电子工业有限公司提交的JFS1100TR型号熔断器的测试报告。报告编号为SZXEC2101551106，测试日期为2021年5月25日至28日。报告内容包括样品描述、测试项目、测试方法、测试结果等。测试项目涉及重金属（镉、铅、汞、六价铬）、多溴联苯（PBBs）和多溴联苯醚（PBDEs）以及邻苯二甲酸酯类物质。所有测试项目均未检测到限值以下的有害物质。
934881003 0980 ESL 303-111中国RoHS声明
该资料为Belden公司生产的元器件0980 ESL 303-111的环境友好使用期限（EFUP）为10年。资料详细列出了该元器件中包含的有害物质，如汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴联苯醚等，并说明了这些有害物质是否超过了中国RoHS规定的限量。此外，资料还提供了制造商和供应商的详细信息，以及元器件的组成部分。
853-003-113R001物料申报表
该资料详细列出了C3604C3604D202G30BKD202G30BK元器件的化学成分及含量，包括铜（Cu）、铅（Pb）、铁（Fe）、锡（Sn）、锌（Zn）、镍（Ni）等元素的含量范围。同时，资料还提到了RoHS豁免信息和相关物质的CAS编号。
852-003-113R001产品工程师材料申报表
该资料详细列出了不同元器件材料中含有的有害物质及其含量，包括铜、铅、铁、锡、锌、镍等元素。资料中特别提到了RoHS指令下的豁免物质，并对每种物质进行了分类和CAS编号标注。同时，资料还提供了每种材料的总质量百分比，以及特定物质的质量百分比。
861-003-113R004产品工程师材料申报表
该资料详细列出了多种元器件中使用的物质及其含量，包括聚对苯二甲酸丁二醇酯（PBT）、玻璃纤维、铜（Cu）、铅（Pb）、铁（Fe）、锡（Sn）、锌（Zn）、镍（Ni）等。每种物质均标注了化学文摘服务号（CAS No.）、质量百分比或质量含量，并涉及RoHS指令下的豁免类别。
保险丝，附加-部件（E486200）
该资料详细介绍了深圳JDT熔断器工业有限公司生产的多种补充型熔断器。包括不同型号、尺寸、电流和电压规格的熔断器，涵盖了填充管式、表面贴装和卡式封装等多种类型。资料中列出了各个型号的详细参数，如额定电流、额定电压和断开能力等。
技术规范
本资料详细介绍了SSM-110P50-001型号电源模块的技术规格。包括输入电压范围、启动电压、瞬态电压、输出电压、输出功率范围等关键参数。此外，还涵盖了通用规格、环境规格、注意事项、典型应用、机械绘图和引脚连接等内容。
RHK03W应用笔记：特性曲线
本资料为P-DUKE TECHNOLOGY CO., LTD.发布的应用笔记，主要介绍了RHK03系列元器件在不同测试条件下的特性曲线。内容包括效率与输出负载、输入电压、功耗与输出负载、降额输出负载与环境温度和气流的关系，以及典型输出纹波和噪声、输入启动和输出上升特性、动态负载变化瞬态响应等。所有测试条件均为25℃。
100FS Series
MTL-110手动测试仪
MTL-110是一款手动测试仪，由Metrology Solutions提供。该测试仪可测量高达110lbf（500N，50kgf）的力，适用于组件测试。其紧凑设计适合小型工作空间，行程为6英寸（152mm）。测试仪的快速动作杠杆每次旋转可移动3英寸（76mm）。杠杆可沿20英寸（508mm）立柱任意位置定位，6英寸（152mm）的喉部可准确测试大型样品。可选配件包括数字量表用于测量挠度距离。底座适配器可调整以适应不同的量规型号。MTL可配备可选的腿，以便在水平位置进行测试。
Xenon™X-1100台式脉冲光研发系统
XENON™ X-1100是一款低成本的桌面脉冲光研发系统，提供宽带高强度的光输出。该系统适用于光子固化、灭菌和烧结等应用，具有高能量脉冲光输出，适用于各种技术和研究领域的创新。
JFN1109 Mini Blade Fuses Devices
JFN1912 Blade Fuses Devices
JFP1109 Mini Blade Fuses Devices
JFC1206TS TIME-LAG FUSE
Xenon X-1100高强度脉冲光系统
XENON公司推出的X-1100高强脉冲光系统是一款低成本研发工具，适用于研究脉冲光在新兴领域的应用。该系统具有高强度的脉冲光输出，可应用于多种科学和技术领域，如银、铜纳米导电墨水和金属墨水的烧结，细菌/杀菌包装处理，水净化，半导体薄膜研究等。
JFP1912 Blade Fuses Devices
JFC1206FS FAST ACTING FUSE
JFC0402TS TIME-LAG FUSE
JFC0402FS FAST ACTING FUSE
PD-42R03-11部分：通用IEC 60320 C14应用。入口；焊接端子，插入式图纸
本资料主要介绍了某款元器件的物理和电气规格。包括材料与表面处理（绝缘体为黑色Nylon 66，接触点为镀锡黄铜），电气参数（如电流和电压额定值、绝缘电阻和耐压值），操作温度，以及推荐的面板厚度和切割尺寸。
IDT71V65703-11415 IDT71V656xx和IDT71V658xx设备勘误表256K x 36和512K x 18 3.3V同步ZBT SRAM
本资料为IDT71V656xx和IDT71V658xx系列256K x 36和512K x 18 3.3V同步ZBTTM SRAM的硅片版本1.0的设备错误清单。资料中详细描述了JTAG功能及相关引脚的问题，包括JTAG电路在当前硅片版本中不工作，以及如何通过不连接、连接至地或连接至电源来解决这个问题。此外，还提到了下一个硅片版本（计划于2002年第二季度发布）将修复JTAG电路的问题。
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